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12 de setembro de 2013

Origem Microscópica de Acumulação de Elétrons no In_20_3

Fernando Sabino, aluno de doutorado do IFSC/IQSC, foi o palestrante convidado de mais uma edição do programa Journal Club, que ocorreu no dia 12 de setembro, no Instituto de Física de São Carlos, que apresentou o tema “Origem Microscópica de Acumulação de Elétrons no In_20_3”, onde promoveu uma discussão em torno da origem do acumulo de elétrons no Indium Oxide.IMG_1300-300

Uma fotoemissão espectroscópica revelou a presença de um gás de elétron bidimensional na superfície do In_20_3 (111).

Um estado de código “subband” quantizado surgiu dentro de um potencial confinante associado ao acúmulo de elétrons de sua superfície.

Cálculos de Poisson-Schrödinger acoplados sugerem que a banda de condução flexionada para baixo deve ser maior do que a faixa de flexão da banda de valência.

Vacâncias de oxigênio na superfície atuam como doadores rasos duplamente ionizados para fornecerem os elétrons livres dentro desta camada de acumulação.

A identificação da origem deste acúmulo de elétrons nas transparentes conduções tem significativas implicações na realização de dispositivos baseados nesses compostos.

Assessoria de Comunicação

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Instituto de Física de São Carlos - IFSC Universidade de São Paulo - USP
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