O Prof. Marcelo Orlandi (UNESP) foi o palestrante convidado do seminário realizado no dia 06 de abril, na Área II do Campus USP de São Carlos, um evento subordinado ao tema Vantagens e Aplicações de Microscopia Eletrônica de Duplo Feixe, uma iniciativa do Grupo de Pesquisa em Nanomateriais e Cerâmicas Avançadas do IFSC.
Na circunstância, o palestrante abordou os princípios da técnica de microscopia de duplo feixe, conseguida através de um microscópio eletrônico de varredura (MEV) com um canhão adicional de íons Ga+3.
Este canhão adicional acrescenta diversas funcionalidades, como, por exemplo, o fatiamento de amostras e a deposição de eletrodos sobre a superfície de nanomateriais.
Orlandi apresentou, também, exemplos de reconstrução 3D de cerâmicas e fabricação e funcionamento de nanodispositivos sensores.
O Prof. Marcelo Orlandi tem Graduação em Física pela Universidade Federal de São Carlos (UFSCar) – 2000; Mestrado em Ciência e Engenharia de Materiais pela UFSCar (2002); Doutorado em Ciência e Engenharia de Materiais pela UFSCar (2005) e Pós-Doutorado pelo Instituto de Química de Araraquara (UNESP) (2006). Foi Pesquisador Visitante no Massachusetts Institute of Technology (MIT/USA) em 2011 e 2014 e Pesquisador Visitante na Ecole Polytechnique Montreal (PolyMtl/Canada) em 2017.
Assessoria de Comunicação – IFSC/USP
