Growth process and grain boundary defects in Er doped BaTiO3 processed by EB-PVD: a study by XRD, FTIR, SEM and AFM.
HUAMAN, Jose Luis Clabel; AWAN, Iram Taj; RIVERA, V. A. G.; NOGUEIRA, I. C.; SILVA, Marcelo de Assumpção Pereira da; SIU LI, Máximo; FERREIRA, S. O.; MAREGA JÚNIOR, Euclydes.
HUAMAN, Jose Luis Clabel; AWAN, Iram Taj; RIVERA, V. A. G.; NOGUEIRA, I. C.; SILVA, Marcelo de Assumpção Pereira da; SIU LI, Máximo; FERREIRA, S. O.; MAREGA JÚNIOR, Euclydes.
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Applied Surface Science |
v.493, p. 982-993 - Ano: 2019 |
Fator de Impacto: 5,155 |
https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2019.07.003 | ![]() |